ABOUT RELY-MEASURE
您的当前位置:主页 > 使用说明 >

三维表面形貌仪产品信息

发布时间:2020-07-26 18:58 作者:金宝搏

  三维表面形貌仪产品信息_物理_自然科学_专业资料。JR25 三维表面形貌仪 产品简介: JR25 型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪,采用国际领先的白光 共聚焦技术, 可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度 高,速度快,

  JR25 三维表面形貌仪 产品简介: JR25 型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪,采用国际领先的白光 共聚焦技术, 可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度 高,速度快,重复性好的优点,该仪器的测量探头可以任意旋转,适合精密测量 不可移动样品表面形貌,同时适合进行野外测试。 产品特性: 1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、 粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、 纸、皮肤、头发、牙齿…); 4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5,不受样品反射率的影响 6,不受环境光的影响 7,测量简单,样品无需特殊处理 8,Z 方向,测量范围大:为 27mm 主要技术参数: 1,扫描范围:25×25(mm) 2, 扫描步长:0.1μ m 3,扫描速度:20mm/s 4, Z 方向测量范围:27mm 4, Z 方向测量分辨率:3nm 产品应用: MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶 瓷和先进材料的研发 联系人:刘蕊 网站:型三维表面形貌仪 产品简介: PS50 型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备, 采用国际领 先的白光共聚焦技术, 可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有 测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探 针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。 产品特性: 1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、 粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、 纸、皮肤、头发、牙齿…); 4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5,不受样品反射率的影响 6,不受环境光的影响 7,测量简单,样品无需特殊处理 8,Z 方向,测量范围大:为 27mm 主要技术参数: 1,扫描范围:50×50(mm) 2, 扫描步长:0.1μ m 3,扫描速度:20mm/s 4, Z 方向测量范围:27mm 4, Z 方向测量分辨率:2nm 产品应用: MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶 瓷和先进材料的研发 联系人:刘蕊 网站:型三维表面形貌仪 产品简介: ST400 型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪,采用国际领先的白光共 聚焦技术, 可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试, 具有测量精度高, 速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样品,并具有多种选项,包 含 360°旋转工作台,原子力显微镜模块,光学显微镜,特征区域定位等多种功 能模块。 产品特性: 1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、 粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、 纸、皮肤、头发、牙齿…); 4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5,不受样品反射率的影响 6,不受环境光的影响 7,测量简单,样品无需特殊处理 8,Z 方向,测量范围大:为 27mm 主要技术参数: 1,扫描范围:150mm×150mm(最大可选 600mm*600mm) 2, 扫描步长:0.1μ m 3,扫描速度:20mm/s 4, Z 方向测量范围:27mm 4, Z 方向测量分辨率:2nm 产品应用: MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶 瓷和先进材料的研发 联系人:刘蕊 网站:型三维表面形貌仪 产品简介: HS1000 型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪,最高扫描速度可达 1m/s, 采用国际领先的白光共聚焦技术, 可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度 测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器可用于测量大尺寸样 品或质检现场使用。 产品特性: 1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、 粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、 纸、皮肤、头发、牙齿…); 4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 5,不受样品反射率的影响 6,不受环境光的影响 7,测量简单,样品无需特殊处理 8,Z 方向,测量范围大:为 27mm 主要技术参数: 1,扫描范围:400mm×600mm(最大可选 600mm*600mm) 2, 扫描步长:5nm 3,扫描速度:1m/s 4, Z 方向测量范围:27mm 4, Z 方向测量分辨率:2nm 产品应用: MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶 瓷和先进材料的研发 联系人:刘蕊 网站:粗糙度测量仪 P3 产品简介: P3 型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪, 采用国际领先的白 光共聚焦技术, 可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标 准 ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测 透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、 木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等 任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 产品特性: 1. 测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 2. 测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 3. 可测样品的最大坡度:87oC 4. 测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗 糙样品 5. 不受环境光的影响 6. 不受样品反射率与形状的影响 7. 操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 主要技术参数: 1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) 2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μ m) 3, Z 方向测量范围:300μ m 4, Z 方向测量分辨率:8nm 5, Z 方向测量精度:60nm 6,横向光学分辨率:2.6μ m 产品应用: MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶 瓷和先进材料的研发 联系人:刘蕊 网站:


金宝搏
Copyright © 2018 金宝搏 All Rights Reservrd 版权所有 技术支持:捷搜网络
网站部分图片来自互联网,如有侵权,请及时通知,我们会及时更换!